مقایسه ی روش اسپکتروسکوپی مادون قرمز و آزمون کهکشانی برای بررسی آسیب به DNA در مواجهه شغلی با میدان های مغناطیسی

زمینه و هدف: جامعه ی بین المللی تحقیق بر سرطان (IARC) میدان های ELF-MF را به عنوان عامل مشکوک به سرطانزایی برای انسان تقسیم بندی کرده است. از آنجاییکه آسیب به DNA به عنوان پیش زمینه ای برای ایجاد سرطان است لذاتشخیص آسیب DNA یک راه پایش مناسب برای پیشگیری از بروز سرطان می باشد لذا هدف از این مطالعه مقایسه ی دوروش اسپکتروسکوپی مادون قرمز (FTIR) و آزمون کهکشانی (Comet) برای تعیین آسیب به DNA در پرسنل یک نیروگاهبرق می باشد.مواد و روش ها: پرسنل بهره بردار و پرسنل اداری از یک صنعت تولید برق مطالعه شد بطوریکه دو گروه از لحاظ سن ، جنس،مصرف سیگار و سابقه ی کار همسان سازی شدند.نتایج آسیب به DNA با روش FTIR و Comet در پرسنل بهره بردار ازمطالعات قبلی محققین این پژوهش استخراج گردید. در آزمون FTIR سطح زیر پیک DNA و در آزمون Comet پارامتر طولدنباله (TL) استفاده شد. جهت آنالیز داده ها از نرم افزار spss نسخه 22 استفاده گردید.یافته ها: نتایج آنالیز آماری نشان می دهد سطح زیر پیک FTIR در اعداد موجی 1735، 1303، 1292، 1276 و 1218 cm-1 در پرسنل بهره بردار تفاوت معنی داری با پرسنل اداری داراست (P<0/001). آزمون اسپیرمن بین اعداد موجی مدنظر وTL بررسی گردید و نتایج آزمون نشان داد که در عدد موجی cm-1 1735 همبستگی معنی داری بین پاسخ FTIR و طولدنباله Comet وجود دارد (بهم ریخته است ) بنابراین طیف مادون قرمز برای DNA در عدد موجی cm-1 1735شاخص مناسبی برای تشخیص آسیب به DNA می باشد.نتیجه گیری: با توجه به همبستکی FTIR در عدد موجی cm-1 1735 با TL در آزمون Comet می توان نتیجه گیری نمودکه آسیب در منطقه ی C=O تیمین برای مولکول های DNA با FTIR شاخص مناسبی برای تایید اثر میدان مغناطیسی درپرسنل دارای مواجهه می باشد.

کلیدواژه ها:

میدان الکترومغناطیسی با فرکانس بسیار پایین (ELF) ، آزمون کامت ، اسپکتروسکوپی مادون قرمز با تبدیل فوریه ، آسیب DNA ، مواجهه شغلی