مطالعه ناهمواری های سطحی نانولایه ها اکسید روی الکتروانباشت شده

در این مقاله نانو لایه اکسید روی به کمک دستگاه پای پتانسیل بر روی زیر لایه مس الکتروانباشت گردید. لایه نشانی روش به روش پتانسیل ثابت انجام گردید و پتانسیل بهینه انباشت به روش ولتامتری چرخه ای برابر با 1/1- محاسبه شد. به منظور تعیین مورفولوژی سطحی نمونه ها از میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و برای مشخص شدن مواد موجود در لایه انباشت شده از آنالیز تفکیک انرژی پرتوی ایکس (EDX) استفاده گردید. برای به دست آوردن خواص فرکتالی و ناهمواری های سطحی لایه نازک از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) استفاده گردید.

کلیدواژه ها:

الکتروانباشت ، اکسید روی ، ناهمواری های سطحی ، میکروسکوپ نیروی اتمی