Modelling and Analysis of the Hybrid-Nonlinear Dynamics of Tapping Mode Atomic Force Microscopy with Van der Waals, Capillary and Repulsive force Interactions

سال انتشار: 1388
محل انتشار: سومین کنفرانس نانوساختارها
کد COI اختصاصی: CNS03_328
زبان مقاله: انگلیسی
تعداد مشاهده: 1713

دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

M Habibnejad Korayem

College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran

A Kavousi

College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran

N Ebrahimi

College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran

چکیده

We study the nonlinear dynamics of a tapping mode atomic force microscope with tip-surface interactions that include attractive, repulsive, and capillary force contributions using numerical techniques tailored for hybrid or discontinuous dynamical systems that include forward-time simulation with event handling We found four branches of periodic solutions that are separated by windows of complex and irregular dynamics. The branches of periodic solutions end where the cantilever comes into grazing contact with event surfaces in state space, corresponding to the onset of capillary interactions and the onset of repulsive forces associated with contact. These windows of irregular dynamics are found to coexist with the periodic branches of solutions as well as exist beyond the termination of the periodic solution. Finally, we show that these details can be overlooked unless one is careful to sample the dynamics appropriately.

کلیدواژه ها

Atomic force microscopy; Forward-time simulation; Capillary force

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.