بررسی تغییرات ضریب بازتابش ساختارهای کریستال فوتونی یک بعدی تخت متشکل از سه لایه ی متفاوت در هر سلول
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP16_276
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1029
نویسندگان
گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، مرکز شیراز
گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، مرکز شیراز
چکیده
در این مقاله به بررسی تاثیر تغییرات ضریب شکست و فاصله ی بین لایه های کریستال فوتونی تخت برضریب بازتابش ساختاری متشکل از سه لایه ی متفاوت در هر سلول واحد پرداخته ایم. با مقایسه ی پهنای گافهای این ساختار و توجه به رفتار آنها نسبت به تغییر ضرایب شکست و ضخامت لایه ها می توان ضریب بازتابش حاصل از این ساختارها را نسبت به سیستمهای دولایه ای افزایش یا کاهش داد و در طراحی بازتاباننده ها از پهنای نوار گاف مناسب استفاده نمود.کلیدواژه ها
چندلایه ای دی الکتریک تخت، ضریب بازتابش، کریستال فوتونی یک بعدی، نوار گاف فوتونیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.