اثر تراکم ناخالصی Ga بر خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های رسانای شفاف نانومتری ZnO:Ga تهیه شده به روش اسپری پایرولیزیز
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP16_177
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1075
نویسندگان
دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود، میدان هفت تیر، شاهرود
دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود، میدان هفت تیر، شاهرود
چکیده
لایه های نازک اکسید روی خالص و آلایش یافته (با تراکمهای 1 تا 3درصد وزنی) گالیوم به روش اسپری پایرولیزیز برروی زیرلایه شیشه نشانده شد. تاثیر میزان ناخالصی گالیوم روی خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه ها بررسی شد. طیف XRD نشانگر بسبلور بودن لایه ها با ساختار هگزاگونال و جهتگیری ترجیحی (002) بود. عبور متوسط در این نمونه ها در ناحیه مرئی حدود 90% است. گاف نواری اپتیکی آنها از 3/27eV تا 3/33eV تغییر می کند که با اثر برشتین - ماس قابل توجیه است. پهنای متوسط انرزی اورباخ در این نمونه ها در حدود 145eV بدست می آید. اندازه گیری های الکتریکی حاکی از کمینه بودن مقاومت ورقه ای در نمونه با 2% ناخالصی است که دارای بیشینه ضریب بهینگی است.کلیدواژه ها
اکسید روی، رسانای شفاف، خواص ساختاری، خواص اپتیکی، خواص الکتریکیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.