رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP16_140
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1194
نویسندگان
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
پژوهشکده لیزر، دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک ، تهران پژوهشکده لیزر و پلا
چکیده
امروزه فیلمهای نازک نیم رسانای مغناطیسی رقیق شده توجه زیادی را به خود اختصاص داده اند. دراین مقاله فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با دو درصد کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی در خلاء و دمای زیرلایه مناسب لایه نشانی شده است. بررسی ساختار لایه نازک با استفاده از طیف پراش پرتو ایکس، تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی، تصویر میکروسکوپ الکترونی انجام شده است همچنین رفتار مغناطیسی لایه به کمک چیدمان اندازه گیری چرخش فارادی به منظور بررسی امکان استفاده از آن در ترابرد اسپینی فرومغناطیس ها در دمای اتاق، مورد مطالعه قرار گرفته است.کلیدواژه ها
اکسید روی دوپه شده با کبالت ، لایه نشانی لیزر پالسی، نیم رسانای مغناطیسی رقیق شدهمقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.