اثر مدهای نقص در رفتار دو پایایی نوری بلورهای فوتونیکی یک بعدی با دولایه نقص غیرخطی
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP16_084
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1286
نویسندگان
گروه اپتیک - لیزر دانشکده فنی مهندسی بناب
گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم آذربایجان
گروه فیزیک دانشگاه شریف
چکیده
رفتار دوپایایی نوری در یک بلور فوتونیکی یک بعدی شامل دولایه نقص غیرخطی، نزدیک فرکانس مدهای نقص بررسی و مقایسه شده است. نشان داده شده که آستانه شروع دوپایایی در نزدیکی مدهای نقص شدت ورودی یکسانی دارد ولی با فاصله گرتن از مدها شدتهای آستانه ازهم فاصله می گیرند و همواره دوپایایی نوری حول مدنقصی که نزدیک به فرکانس میدان تابشی است شدت آستانه کمتری دارد. با فاصله گرفتن دولایه نقص از هم در ساختار، مدهای نقص به هم نزدیک شده ولی آستانه دوپایایی نوری در شدتهای بالاتر دیده می شود.کلیدواژه ها
بلور فوتونیکی، دوپایایی نوری، لایه نقص، مدنقصمقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.