بررسی اثر اندازه بسامد پلاسمای مؤثر، بر میزان گاف نوار در نانو بلورهای فوتونی فلزی
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: همایش ملی نانو مواد و نانو تکنولوژی
- کد COI اختصاصی: NAYRC01_082
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1071
نویسندگان
عضو هیئت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد شبستر
چکیده
با استفاده از روش موج تخت تغییر یافته، ساختار نوار فوتونی در یک نانو بلور فوتونی پاشنده با شبکه مربعی محاسبه شده است. میله های پاشنده واقع در بلور را از جنس فلز و با سطح مقطع هگزاگونال انتخاب کرده ایم که در زمینه ای از هوا قرار گرفته اند. این نانو بلورها از خود گاف نوار فوتونی یا همان ناحیه ممنوعه بسامدی نشان می دهند. معمولا این گافها از لحاظ طیف نوری در ناحیه مادون قرمز قرار می گیرند. هدف ما در این مقاله بررسی موقعیت و پهنای این گافهای فوتونی و بدست آوردن گاف نوار بیشینه است. برای این منظور مقادیر مختلفی را برای بسامد پلاسمای مؤثر نانو بلور در نظر گرفته ایم. نتایج حاکی از اینست که تعداد و همچنین پهنای گافهای نوار با افزایش بسامد پلاسمای مؤثر، افزایش می یابد.کلیدواژه ها
نانو بلور فوتونی- روش موج تخت تغییر یافته-گاف نوار-ساختار نوارمقالات مرتبط جدید
- بررسی عوامل مژثر بر پیشگیری و مدیریت پدیده خودسوزی زغال سنگ در صنعت معدن کاری زیرزمینی
- پیش بینی لرزش زمین با روش های شبکه عصبی مصنوعی و رگرسیون چندمتغیره (مطالعه موردی: معدن سنگ آهن شماره یک گل گهر)
- ارزیابی درجه آلودگی فلزات سنگین با استفاده از شاخص آماری ضریب غنی شدگی در رسوبات منطقه وبژه اقتصادی بندر شهیدر جائی
- تعیین مناسب ترین روش آب گیری از باطله های کارخانه تغلیظ ۳ مجتمع مس سرچشمه
- کاربرد روش تحلیل سلسله مراتبی AHP در مهندسی معدن
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.