بررسی دقت روش کیرشوف با تعیین مورفولوژی سطوح ناهموار شیشه ای
- سال انتشار: 1384
- محل انتشار: دوازدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP12_043
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1726
نویسندگان
گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران
گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران
گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران
چکیده
در این مقاله ، دقت تقریب کیرشوف را در مورد پراکندگی حاصل از سطح شیشه با نتایج تجربی مورد ارز یابی قرار می دهیم . بدین منظور با استفاده از محلول HF در زما نهای متفاوت خوردگیهای دلخواه را ایجاد نموده و به کمک میکروسکوپ AFM (درمقیاس کوچک) و ارتفاع سنج تالی سورف ( در مقیاس بزرگ ) ابعاد ناهمواری سطح را تعیین کرده و در روابط کیرشوف جایگزین و نتایج حاصله پراکندگی را با نتایج تجربی مقایسه و پیشنهادات لازم ارایه شده است .کلیدواژه ها
روش کیرشوف، سطوح شیشه ای ، مورفولوژیمقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.