Effect of contact position and tip properties on the torsional vibration responses of atomic force microscope cantilever
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس سالانه بین المللی مهندسی مکانیک
- کد COI اختصاصی: ISME16_900
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 2138
نویسندگان
MSc Student
Assistant Professor
MSc Student
چکیده
In this paper, the characteristic equation of the torsional vibration for an AFM cantilever with different contact position is given. By considering the effects of length, mass and contact position of the tip the resonant frequency and amplitude of the torsional vibration of the cantilever were analyzed. Because the tip is not exactly located at one end of the cantilever, the cantilever is modeled as two beams. The results show that the first mode is the most sensitive mode of torsional vibration of an AFM cantilever, while the high-order vibration modes are more sensitive than the first mode with respect to the contact position. The effect of the contact position on the resonant frequency and amplitude are significant and are not negligible especially when the lateral stiffness is greater.کلیدواژه ها
Atomic force microscope; resonant frequency; tip properties; surface propertiesمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.