بیان میکروسکوپی از چگالی نیروی الکترومغناطیسی در محیطهای دی الکتریک مغناطیسی در مقیاس نانو
- سال انتشار: 1391
- محل انتشار: اولین همایش ملی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: AHVAZNANO01_027
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1044
نویسندگان
دانشکده فیزیک ، دانشگاه اصفهان ، اصفهان ، ایران
دانشکده فیزیک ، دانشگاه اصفهان ، اصفهان ، ایران
چکیده
چگالی نیروی ماکروسکوپی روی محیط دی الکتریک مغناطیسی همسانگرد خطی در مقیاس نانو توسط میدان الکترومغناطیسی دلخواه و یک میانگین گیری فضایی ازچگالی نیروی لورنتسی میکروسکوپی محاسبه می شود.محاسبات بدست آمده در این مقاله ، با محاسبات عمومی و رایج که تاکنون بدست آمده متفاوت است.اما تانسور انرژی – تکانه با تانسور معروف هلمهولتز ،برای محیطهای که از قانون کلاسیوس-ماسوتی پیروی می کند هم خوانی دارد ، بنابراین بیان میکروسکوپی مقاله ، به وضوح صحت تانسور هلمهولتز را برای محیط در مقیاس نانو اثبات می کند. همچنین ، بیانی از چگالی تکانه میدان در این تئوری ، با بیان چگالی تکانه توسط آبرهام ، مینوفسکی ، لاب و اینشتین متفاوت است و تئوری آبراهم و مینوفسکی بر خلاف تئوری مقاله با مشاهدات تجربی همخوانی ندارد ، بخاطر همین تاکید به تئوری بدست آمده داریم.کلیدواژه ها
چگالی نیروی الکترومغناطیسی ، محیط دی الکتریک مغناطیسی ، تانسور انرژی-تکانهمقالات مرتبط جدید
- بررسی عوامل مژثر بر پیشگیری و مدیریت پدیده خودسوزی زغال سنگ در صنعت معدن کاری زیرزمینی
- پیش بینی لرزش زمین با روش های شبکه عصبی مصنوعی و رگرسیون چندمتغیره (مطالعه موردی: معدن سنگ آهن شماره یک گل گهر)
- ارزیابی درجه آلودگی فلزات سنگین با استفاده از شاخص آماری ضریب غنی شدگی در رسوبات منطقه وبژه اقتصادی بندر شهیدر جائی
- تعیین مناسب ترین روش آب گیری از باطله های کارخانه تغلیظ ۳ مجتمع مس سرچشمه
- کاربرد روش تحلیل سلسله مراتبی AHP در مهندسی معدن
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.