بررسی مورفولوژی وخواص مغناطیسی نانوسیم های مغناطیسی NiP تولیدشده بهروش رسوب الکتروشیمیایی پس از فرآیند آندایزینگ آلیاژ آلومینیوم ۱۱۰۰

سال انتشار: 1402
محل انتشار: بیست و سومین همایش ملی مهندسی سطح- دومین کنفرانس آنالیز تخریب و تخمین عمر
کد COI اختصاصی: ISSE23_063
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 106

نویسندگان

استادیار، دانشکده مهندسی مواد، واحد لنجان، دانشگاه آزاد اسلامی، اصفهان، ایران

دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مواد ومتالورژی، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران

چکیده

تولید نانوسیم های مغناطیسی به کمک بستر متخلخل ایجاد شده به روش آندایزینگ یکی از موضوعات مهمم درحوزه علم نانو و مهندسی سطح می باشد. در این پژوهش ابتدا با کنترل دقیق دما و شرایط، آندایزینگ در محمیطاسید اگزالیک در ولتاژ ۹۰ ولت انجام شد. سپس با توجه به ماهیت اکسیدی و غیر متخلخل بودن لایه سدی (لایهچسبنده به سطح) با استفاده از کاهش ولتاژ در قسمت نهایی پوشش دهی آندایزینگ ضخامت این لایه به حداقلمقدار ممکن تقلیل یافت. بررسی های XRD و EDS نشان داد که بستر لایه تولیدی متخلخل ماهیت اکسیدی وآمورف دارد. پوشش اکسیدی در این پژوهش حدود ۵۳ میکرومتر ضخامت داشت. در مرحله دوم به کمکروش رسوب الکتروشیمیایی نانوسیم های نیکل فسفر با خاصیت مغناطیسی بسیار مناسب درون لایه آندایز ایجاد شدند. نانوسیم های درون پوشش آندایزینگ دارای ماهیت مخلوط کریستالی آمورف بودند. بررسی خواصمغناطیسی به کمک آزمون VSM انجام گردید و مشاهده شد که وادارنگی مغناطیسی این نانوسیم ها قابل توجهاست و نشان می دهد که این نانوسیم ها مواد مغناطیسی سختی هستند.

کلیدواژه ها

آندایزینگ؛ خواص مغناطیسی؛ نانوسیم؛ مورفولوژی؛ رسوب الکتروشیمیایی.

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.