نگاهی به مبانی پراش اشعه ایکس (مقدمه ای کوتاه به XRD و XRF)
- سال انتشار: 1400
- محل انتشار: هشتمین کنفرانس بین المللی مکانیک، ساخت، صنایع و مهندسی عمران
- کد COI اختصاصی: MMICONF08_053
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1156
نویسندگان
کارشناسی ارشد شیمی معدنی، دانشکده علوم شیمی و نفت - دانشگاه شهید بهشتی
چکیده
؛XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسیخصوصیات کریستال ها می باشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسیویژگی های نمونه استفاده می شود.تکنیک XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه،تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیریتک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه و غیره، قابل استفاده می باشد. در این مقاله ابتدا بااساس کار XRD و سپس با اجزا XRD و همچنین XRF آشنا خواهیم شد.کلیدواژه ها
بلورشناسی، کریستالوگرافی، طیف سنجی فلورسانس، پرتو ایکس، XRD ، بلورنگاری پرتو ایکس، XRF ، بلور، کریستال، رشد بلورمقالات مرتبط جدید
- بررسی اثر فضای سبز بر تعاملات اجتماعی در آپارتمان های شهری
- قوانین بنیادی در معماری پایداربا تاکید بر نکات مثبت در بهبود طراحی پایدار
- مطالعه مروری بر طراحی فونداسیون ساختمان های بلند مرتبه:مطالعه موردی فونداسیون ساختمان اینچئون کره
- طراحی سازه های اسکان موقت با رویکرد معماری همساز با اقلیم
- بررسی مسئولیت مدنی و کیفری مهندسان ناظر
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.