محاسبه پذیرفتاری مرتبه سوم χ3 نانوذر ات CdTe
- سال انتشار: 1389
- محل انتشار: هفدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و سومین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP17_309
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1421
نویسندگان
آزمایشگاه فوتونیک، دانشگاه تربیت معلم تهران، تهران
آزمایشگاه فوتونیک، دانشگاه تربیت معلم تهران، تهران
گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی
گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی
چکیده
در این مقاله نانوذراتCdTeسنتز شده و طیف جذب مرئی از آن گرفته شده است که نشان دهنده قلۀ جذبی در حدnm450می باشد. سپس با استفاده از الگوی پراشXRDو تصویرSEMاندازه این نانوذرات درحدnm57تعیین شده است. با استفادهاز لیزر پیوستۀHe-Ne (λ=632.8 nm) اندازه و علامت ضرایب شکست و جذب غیرخطی مرتبۀ دوم این نانوذرات با استفاده از آزمایشجاروبz- روزنه بسته و روزنه باز تعیین گردیده و پذیرفتاری مرتبه سوم غیر خطی برای چند شدت مختلف محاسبه شده استکلیدواژه ها
پذیرفتاری مرتبه سوم غیر خطی ، جاروبz-ضریب جذب غیرخطی، ضریب شکست غیرخطی ، قلۀ جذب اکسیتونیمقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.