طیف سنجی پراش اشعه ایکس
- سال انتشار: 1397
- محل انتشار: فصلنامه رویکردهای نوین در آزمایشگاه های علمی ایران، دوره: 2، شماره: 4
- کد COI اختصاصی: JR_NAISL-2-4_003
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 5429
نویسندگان
گروه شیمی کاربردی، دانشکده شیمی، دانشگاه تبریز، تبریز، ایران
چکیده
علم مطالعه رشد، شکل خارجی، ساختار داخلی و خواص فیزیکی کریستال ها را بلورشناسی می گویند. با کشف اشعه X در سال 1895، امکان مطالعه ساختار درونی کریستال ها و ارتباط آن با ساختار بیرونی فراهم شد. از این رو طیف سنجی پراش (تفرق) اشعه X یک تکنیک پرکاربرد برای بررسی خصوصیات کریستال ها می باشد. ناحیه پرتو X در طیف الکترومغناطیس در محدوده بین پرتو گاما (γ) و پرتو فرابنفش قرار دارد. اشعه های X که برای پراش استفاده می شوند، معمولا طول موجی در حدود 5/0 الی 5/2 آنگستروم دارند. بنابراین این روش بر پایهی خاصیت موجی اشعه ایکس استوار است. با استفاده از این ناحیه طیفی می توان اطلاعاتی در مورد عموم کمیت ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه، تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیری تک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه وغیره به دست آورد. همچنین طیف سنجی پراش اشعه X به دلیل داشتن تجهیزات ساده و آماده سازی نمونه آسان، روشی پر کاربرد در زمینه های مختلف می باشد. در XRD با تعیین پارامترهای موثر از جمله زاویه براگ، شدت و پهنای پیک ها و اندازه ذرات می توان ترکیبات را شناسایی کرد. در این مقاله ابتدا با اساس کار تکنیک XRD و سپس با اجزا دستگاه XRD آشنا خواهیم شد.کلیدواژه ها
کریستال, اشعه X, الکترومغناطیس, XRD, شبکهاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.