بررسی اثر دمای زیرلایه بر خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی در نانوساختارهای اکسید مس (CuO) تهیه شده به روش افشانه تجزیه حرارتی
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1393
- کد COI اختصاصی: IPC93_228
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 273
نویسندگان
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شاهرود، شاهرود
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شاهرود، شاهرود
چکیده
لایه های نازک اکسید مس از محلول اولیه استات مس با روش مقرون به صرفه افشانه تجزیه حرارتی بر روی زیرلایه شیشه در دماهای 315، 375 و 440ºC لایه نشانی شدند. آنگاه نمونه ها با استفاده از تصاویرFESEM٬ طیف های XRD و طیف سنجی نوری UV-Vis مورد مشخصه یابی قرار گرفتند. دریافتیم کلیه نمونه ها به صورت میکرو و نانو ساختار های بس بلوری متنوع در جهت های اصلی (002) و (111) رشد یافته اند. در بین این نمونه ها٬ نمونه رشد یافته در دمای °C 440 از شرایط بهینه ساختاری (بزرگترین ابعاد بلورکی و کمترین تراکم نواقص بلوری) و نمونه رشد یافته در دمای 315°C از شرایط بهینه اپتیکی (کوچکترین گاف نواری و بیشترین جذب نوری) برخوردار است.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- استفاده از سنسور نرم کرنش خازنی با دی الکتریک اکزتیک مربع چرخان جهت نظارت سلامت انسان
- ارزیابی استحکام جوش های مقاومتی نقطه ای دراتصالات چهارورقه ای فولاداستحکام بالا در صنایع خودروسازی
- Application of Artificial Intelligence Techniques in Assessing the Safety of Lifting Equipment
- مروری بر توربین های بادی و فرآیند آکوستیک امیشن در پره های توربین
- شناسایی عیوب متداول در قطعات داغ توربین های گازی تولید شده به روش ریخته گری دقیق با استفاده از تست غیر مخرب مایعات نافذ
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.