جبرانسازی و حذف اثرات خزش و هیسترزیس در دستگاههای ساخت نانوسازه
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: نهمین کنفرانس مهندسی ساخت و تولید
- کد COI اختصاصی: ICME09_206
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1407
نویسندگان
دانشجوی دکترای مهندسی مکانیک دانشگاه علم و صنعت ایران
استاد گروه مهندسی مکانیک دانشگاه علم و صنعت ایران
چکیده
این مقاله قسمت دوم کار بسیار ارزشمندی است که نهایتاً در پایان به مدلی جدید جهت جبرانسازی اثرات غیرخطی در دستگاه ساخت قطعات نانو منجر می شود. در این قسمت، بر اساس رهیافت جدیدی که برای مدلسازی اثرات غیرخطی شامل خزش و هیسترزیس در اسکنرهای پیزوتیوبی ارائه شد، یک الگوریتم جبرانسازی طراحی و پیاده سازی شده است. انعطاف پذیری که از خصوصیات بارز رفتار ولتاژ - جابجایی است، در الگوریتم جبرانسازی به خوبی قابل مشاهده است. با اعمال این جبرانسازی، به صورت همزمان، مقایسه با نتایج تجربی نشان می دهند که این روش بسیار موثر بوده و حتی هیسترزیس های با شکل نامتقارن و دامنه های کوچک و بزرگ را نیز دنبال می کند.کلیدواژه ها
هیسترزیس، انعطاف پذیری، میکروسکوپ پروبی روبشی، نانوسازه، خزشمقالات مرتبط جدید
- مدیریت انرژی در یک ریزشبکه در حضور منابع تجدیدپذیر و ذخیره ساز باتری
- تجزیه وتحلیل انرژی و اگزرژی برای سیستم ژنراتور ترموالکتریک اگزوز خودرو و مقایسه عملکرد پیکربندی سیستم ساده و سیستم دارای باله های صفحه ای
- کارشناسی حوادث و مدیریت زنجیره بحران در زمانبندی پروژه های ساخت و ساز
- یک روش جدید از مدیریت شهری و حقوق شهروندی
- مدیریت بحران و کارشناسی حوادث برای کارگران در حوزه مدیریت شهری
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.