ساخت لایه نازک اکسید قلع به روش سل-ژل و بررسی خواص اپتیکی آن با استفاده از روش اسپکتروسکوپی الیپسومتری

سال انتشار: 1397
محل انتشار: اولین همایش بین المللی پژوهش های کاربردی در علوم ریاضی و فیزیک
کد COI اختصاصی: MATHCO01_002
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 682

نویسندگان

دانشجوی دکتری گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه ارومیه

استاد گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه ارومیه

چکیده

در این مطالعه خواص اپتیکی شامل درصد بازتابش و عبوردهی، ضریب شکست و ضریب جذب و همچنین گاف نواری اپتیکی لایه نازک اکسید قلع ساخته شده به روش سل ژل با استفاده از اسپکتروسکوپی الیپسومتری تعیین شد. لایه نازک اکسید قلع بر روی زیر لایه شیشه با سرعت چرخش 1800 دور بر دقیقه با استفاده از پوشش دهی دورانی لایه نشانی شد. سپس لایه بر روی صفحه داغ با دمای 150 ͦC به مدت 10 دقیقه پخته و بلافاصله در کوره با دمای 450 ͦC به مدت 1 ساعت بازپخت شد. خواص اپتیکی لایه نازک اکسید قلع در محدوده طول موج مریی 300 تا 800 نانومتر با زوایه تابش فرودی ثابت 70 درجه بررسی شد. گاف اپتیکی به دست آمده برای لایه نازک اکسید قلع ساخته شده به میزان 3.8 الکترون ولت تعیین شد.

کلیدواژه ها

روش سل-ژل، لایه نازک، اکسید قلع، اسپکتروسکوپی الیپسومتری

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.