بررسی عمق نفوذ و توزیع دمایی باریکه لیزر
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP16_284
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1295
نویسندگان
دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی، خیابان شریعتی، ته
دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی، خیابان شریعتی، ته
چکیده
در این مقاله به بررسی عمق نفوذ در لایه نازکی از سیلیکون، آلومینیوم و مس که در معرض تابش لیزر با توان 50W است پرداخته ایم. عمق نفوذ به ضریب جذب و ضریب جذب نیز وابسته به دماست. بنابراین با دانستن این نکته، عمق نفوذ باریکه لیزر و توزیع دمایی را در لایه ها بررسی می کنیم. در این شبیه سازی شدت باریکه لیزر در قسمت تحتانی لایه مسی 5.170065e -4 لایه آلومینیومی 6.243842 e -4 ، لایه سیلیکونی e -4 6.846152 بدست آمده است. امروزه انجام شبیه سازی در سیستم های مهندسی، به منظور افزایش عمر کاری قطعات، به همراه کاهش هزینه های تولید، امری ضروری بنظر می رسد.کلیدواژه ها
لیزر، سطح ، عمق نفوذ، شبیه سازیFemlabمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.