مشاهده ی پراش میدان دور و محاسبه ی ضریب شکست غیر خطی مرتبه سوم نانو ذرات نقره
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP15_142
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1874
نویسندگان
آزمایشگاه فوتونیک ، گروه فیزیک ، دانشگاه تربیت معلم ، تهران
آزمایشگاه فوتونیک ، گروه فیزیک ، دانشگاه تربیت معلم ، تهران
آزمایشگاه فوتونیک ، گروه فیزیک ، دانشگاه تربیت معلم ، تهران
چکیده
دراین مقاله به یکی ازروشهای موجود برای بررسی آثار غیرخطی نانوذرات نقره پرداخته ایم این روش برپایه مشاهده حلقه های پراش درمیدان دوراست که این اثرناشی ازضریب شکست مختلط وابسته به شدت می باشد این آزمایش ها برای شدت های مختلف پرتوری لیزر انجام گرفته و درنهایت با استفاده ازنتایج حاصل و از روی تعداد حلقه های بدست آمده برای هرشدت ضریب شکست غیرخطی محیط را بدست آورده ایم نانوذرات نقره را دراین آزمایش ها به صورت فیلمهای ژلاتینی درآورده ودرچیدمان میدان دور استفاده نموده ایم .کلیدواژه ها
نانو ذرات نقره ، ضریب شکست غیر خطی ، میدان دور ، حلقه های پراشمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.