بررسی سد پتانسیل تدریجی بر عملکرد ترانزیستور GaN HEMT
عنوان مقاله: بررسی سد پتانسیل تدریجی بر عملکرد ترانزیستور GaN HEMT
شناسه ملی مقاله: COMCONF02_216
منتشر شده در دومین کنفرانس بین المللی یافته های نوین پژوهشی در مهندسی برق و علوم کامپیوتر در سال 1395
شناسه ملی مقاله: COMCONF02_216
منتشر شده در دومین کنفرانس بین المللی یافته های نوین پژوهشی در مهندسی برق و علوم کامپیوتر در سال 1395
مشخصات نویسندگان مقاله:
مریم شایع سبزوار - دانشجوی کارشناسی ارشد،دانشگاه آزاد اسلامی واحد بجنورد
سیدابراهیم حسینی - استادیار،دانشگاه فردوسی مشهد،دانشکده فنی مهندسی،گروه برق الکترونیک
خلاصه مقاله:
مریم شایع سبزوار - دانشجوی کارشناسی ارشد،دانشگاه آزاد اسلامی واحد بجنورد
سیدابراهیم حسینی - استادیار،دانشگاه فردوسی مشهد،دانشکده فنی مهندسی،گروه برق الکترونیک
با پیشرفت فناوری های نوین، استفاده از قطعات نیمه هادی با فرکانس کاری وسرعت بالا ودر عین حال نویز وتوان مصرفی پایین دراندازه های کوچکتر افزایش یافته است .قطعات نیمه هادی برپایه GaN HEMT از این نوع می باشد .در این مقاله عملکرد نمونه ای از این ترانزیستورها را با تغییر تدریجی دوپینگ سد پتانسیل از نظر مشخصه های خروجی قطعه بررسی میگردد .تغییر دوپینگ به صورت افزایشی وکاهشی بوده که با حالت دوپینگ یکنواخت مقایسه میگردد .شبیه سازی قطعه با نرم افزار Silvaco می باشد.با توجه به نتایج بدست آمده از خروجی قطعه در سه حالت افزایشی،کاهشیویکنواخت مشخصه های قطعه در حالت کاهشی بهبود یافته است.
کلمات کلیدی: GaN HEMT ، موبیلیتی، قطبش پیزوالکتریک، سد پتانسیل ،دوپینگ لایه سد ،گاز الکترون دوبعدی
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/546025/