Analysis of Different Nano Imaging and Logical Relations between them
- سال انتشار: 1395
- محل انتشار: اولین کنفرانس ملی کاربرد کامپوزیت ها در صنعت ساخت
- کد COI اختصاصی: CFCA01_062
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 825
نویسندگان
Assistant Professor, Department of Civil Engineering, Shahid Rajaee Teacher Training
Master Student in Geotechnic, Shahid Rajaee Teacher Training
چکیده
In order for analyzing the Nano particles area and details of materials in Nano Scale, there are used of different techniques such as AFM XRD / SEM / FT-IR / XRF / GC-MS / TEM / TGA / AA that are more applied in civil engineering. This study aims to introduce the application of such approaches, preparing the samples in each method, dealing with advantages and disadvantages of each method. In this paper, the images prepared in each approach have been completely illustratedکلیدواژه ها
AFM , XRD , SEM , FT-IR , XRF , GC-MS , TEM , TGA , AA , Nano-clays , Nano-Particles, nanotechnology , nanotubesاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.