تحلیل نقص در کریستالهای فوتونیکی یک بعدی و استفاده در کریستالهای مایع
- سال انتشار: 1394
- محل انتشار: کنفرانس ملی فناوریهای نوین نور، فتونیک و سیستمهای فتوولتاییک
- کد COI اختصاصی: LPPS01_047
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 721
نویسندگان
باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان واحد علی آباد کتول دانشگاه آزاد اسلامی علی آباد کتول ایران
باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان واحد علی آباد کتول دانشگاه آزاد اسلامی علی آباد کتول ایران
چکیده
کریستالهای فوتونیکی مواد دی الکتریک مصنوعی با ضریب شکست تناوبی هستند که ویژگی های الکترومغناطیسی جدید و بدیعی دارند این بلورها نشان داده اند که نتیجه پراکندگی براگ در یک ساختار دی الکتریک متناوب پاسخی به شکل گاف باند فوتونیکی است این گاف ها از حضور فوتون ها در یک دامنه انرژی معین و مشخصی جلوگیری به عمل می آورند وقتی تناوب شبکه با وارد کردن یک عیب یا نقص به درون بلور فوتونیکی شکسته می شود یک مد نقص جایگزیده در محدوده گاف نواری فوتونیکی ظاهر و نمایان می شود که منجر به تغییر و تحول در رفتار تداخلی نور می شود این تغییرات با ماهیت و نوع نقص تعیین و مشخص می شودکلیدواژه ها
کریستالهای فوتونیکی،نقص تدریجی،کریستالهای مایعمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.