بررسی آزمایشگاهی تأثیر شدت میدان الکتریکی بر ضریب کشش سطحی نانو سورفکتانت کاتیونی و پیش بینی میزان ازدیاد برداشت
- سال انتشار: 1394
- محل انتشار: کنفرانس بین المللی یافته های نوین پژوهشی در شیمی و مهندسی شیمی
- کد COI اختصاصی: CHCONF01_095
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 546
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه آزاد اسلامی واحد شیراز، گروه مهندسی شیمی، شیراز، ایران
استادیار، دانشگاه آزاد اسلامی واحد گچساران، گروه مهندسی شیمی، گچساران، ایران
چکیده
هدف از انجام این مطالعه آزمایشگاهی، بررسی تأثیر شدت میدان الکتریکی بر روی ضریب کشش سطحی نانو سورفکتانت کاتیونی می باشد. برای این هدف باید به درک کاملی از سورفکتانت ها، کشش سطحی، میدان الکتریکی و ازدیاد برداشت برسیم. بنابراین در ابتدا به بررسی این سه مبحث پرداخته می شود و سپس به ساخت سیکل مورد نظر و انجام آزمایش ها اقدام می کنیم. در این پروژه از سورفکتانت هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید (CTAB) بر پایه آب استفاده شده است و تأثیرات کسر وزنی سورفکتانت 0 تا 0/12، شدت میدان الکتریکی (0V≤E≤1543V) بر روی کشش سطحی مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت. نتایج تجربی نشان می دهد که در غیاب میدان الکتریکی با افزودن سورفکتانت هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید (CTAB) به سیال پایه کشش سطحی کاهش می یابد. با اعمال میدان الکتریکی کشش سطحی نانو سورفکتانت هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید (CTAB) روند افزایشی پیدا می کند. با تزریق نانو سورفکتانت هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید (CTAB) میزان ازدیاد برداشت افزایش می یابد.کلیدواژه ها
نانوسورفکتانت، میدان الکتریکی، هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید (CTAB)، کشش سطحی، ازدیاد برداشتمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.