Low-Cost Automatic Test Pattern Generation
- سال انتشار: 1386
- محل انتشار: پانزدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران
- کد COI اختصاصی: ICEE15_287
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 2224
نویسندگان
Amirkabir University of Technology
Tehran University
Iran University of Science and Technology
Iran University or science and technoligy
چکیده
Deterministic test generation algorithms are highly complex and time-consunung. Test generation requires new approach to generate test vectors under several constraints such as high fault coverage, testing time, and testing power. In this paper, a parallel genetic algorithm-based test ystem is presented to handle constraints mentioned above. This system is capable of high fault coverage for digital circuits. Here, we use an incremental approach to achieve minimum sequence of test vectors to reduce testing time and power consumption. A general fault simulator is employed to calccllate fault coverage. Experimental results show high k ~ dcto verage with ferv test vectors for most of the ISCAS benchmark ircuits. Achieved results show, our system oritperforms over the other traditional automa tic test vector generation algorithms. In some cases we have an improvement in test vector size more than two times compared to other algoritluns.کلیدواژه ها
Automatic test pattern generation, Parallel GA, Fault coverageمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.