بهینه سازی قطر نانو سیم های اکسید روی با استفاده از مدل آماری آزمایش

سال انتشار: 1386
محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو
کد COI اختصاصی: NANOSC02_245
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 1551

نویسندگان

کاشان، دانشگاه کاشان، پژوهشکده علوم و فنون نانو

چکیده

در این تحقیق امکان بهینه سازی پارامتر قطر نانوسیم های اکسید روی با استفاده از روش مدل آماری آزمایش، بررسی شده است. ابتدا با مدل فاکتوریل جزیی و روش شناسی رویه سطح، تاثیر 6 پارامتر رشد بر روی متوسط قطر نانوسیم های اکسیدروی، بررسی شده اند . سپس با استفاده از مدل فاکتوریل جزیی با تفکیک پذیری 3، پارامترهای «زمان سنتز ، ضخامت کاتالیست و دمای سنتز» بعنوان پارامترهای کلیدی تاثیر گذار بر قطر نانوسیم ها شناخته شدند. سپس با به کار گیری مدل BBD، رویه پاسخ سیستم بصورت تابعی از پارامترهای کلیدی بدست آمد.

کلیدواژه ها

روش بخار ، مایع ، جامد ، روش شناسی رویه سطح و نانوسیم های اکسید کننده

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.