تولید نانوسیم های Ni خالص به روش الکتروانباشت درون حفره های موجود در فیلتر پلی کربنات و مطالعه ساختار آن ها توسط میکروسکوپ الکترونی
- سال انتشار: 1386
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1386
- کد COI اختصاصی: IPC86_268
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1318
نویسندگان
گروه فیزیک دانشگاه اراک
گروه فیزیک دانشگاه شهیدچمران اهواز
گروه فیزیک دانشگاه اراک
چکیده
هدف از این تحقیق الکتروانباشت نانوسیم های Ni درون حفره های نانومتری موجود در فیلتر پلی کربنات می باشد . این حفره ها که همچون چـاه هـایی بـه عمـق 6 میکرون و قطر30 نانومتر هستند پس از پر شدن توسط اتم های Ni نانوسیم هایی را تشکیل می دهند که بعد از حل شدن پلی کربنات در محلـول کلروفـرم آزاد می گردند . ساختار نانوسیم ها به کمک میکروسکوپ های الکترونی روبشی و عبوری مورد مطالعه قرار گرفـت . مطالعـات میکروسـکوپی الکترونـی نـشان داد کـه نانوسیم های تهیه شده پیوسته هستند ولی ساختار تک بلور کامل ندارندکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.