اندازه گیری عمق نفوذ باریکه های الکترونی در پلی اتیلن با استفاده از لیزر He-Ne
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
- کد COI اختصاصی: NCOLE03_115
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1137
نویسندگان
سازمان انرژی اتمی ایران، معاونت توسعه کاربرد پرتوها، مجتمع کاربرد پرتوهای یزد
سازمان انرژی اتمی ایران، معاونت توسعه کاربرد پرتوها، مجتمع کاربرد پرتوهای یزد
سازمان انرژی اتمی ایران، معاونت توسعه کاربرد پرتوها، مجتمع کاربرد پرتوهای یزد
سازمان انرژی اتمی ایران، معاونت توسعه کاربرد پرتوها، مجتمع کاربرد پرتوهای یزد
چکیده
لیزر می تواند وسیله اندازه گیری مناسبی برای برخی از پارامترهای فیزیک هسته ای باشد. در این مقاله عمق نفوذپرتوده ی الکترونی در پلیمر پلی اتیلن با استفاده از لیزر اندازه گیری شد. برای این کار دو نمونه پلی اتیلن با ضخامت 0.1nm و 1nm تحت تابش الکترون با انرژی 10MeV قرار گرفت. سپس با استفاده از لیزر He-Ne عمق نفوذ باریکه الکترونی در این دو نمونه بدست آمد. نتایج تجربی بدست آمده نشان میدهد که داده های اندازهگیری شده باداده های پژوهش های دیگر و استانداردهای بین المللی تطابق بسیار خوبی دارد.کلیدواژه ها
باریکه الکترونیپلی اتیلندزجذبیعمق نفوذ لیزر He-Neمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.