تهیه و بررسی خواص لایه های نانوساختاری سولفید مس و مشاهده رفتار فیلتری آنها
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
- کد COI اختصاصی: NCOLE03_086
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1314
نویسندگان
گروه فیزیک، دانشگاه شهید مدنی آذربایجان، تبریز، ایران
گروه فیزیک، دانشگاه شهید مدنی آذربایجان، تبریز، ایران
گروه فیزیک، دانشگاه شهید مدنی آذربایجان، تبریز، ایران
چکیده
در این مقاله، لایه های نازک سولفید مس با استفاده از روش انباشت حمام شیمیایی در دماها و زمان های مختلف تهیه،خواص ساختاری و نوری آنها مطالعه شده است. لایه نشانی از محلول آبی شامل سولفات مس، تیواوره و تری اتیل آمینروی زیر لایه شیشه صورت گرفته است. اثرات دما و زمان لایه نشانی روی ساختار، ضخامت و گاف انرژی نمونه ها با استفاده از آنالیزهای پراش اشعه x ، میکروسکوپ جاروب الکترونی و اسپکتروفوتومتری در ناحیه مرئی- فرابنفش بررسی شدهاند. نتایج نشان می دهندکه با افزایش دما و زمان لایه نشانی مقادیر ضخامت لایه ها افزایش یافته، اندازه گاف انرژیو تراگسیل کاهش می یابند. مفادیر گاف انرژی نمونه های تهیه شده در زمان های لایه نشانی 2 تا 8 ساعت و در دماهای 45 تا 85 از (eV) 2/7 به (eV) 2/4 تغییر می کند. تراگسیل نوری نمونه ها حول طول موج 650 نانومتر رفتار فیلتری با تراگسیلی در حدود 60% تا 75% از خود نشان می دهند. این نوع رفتار می تواند در لایه نشانی برای استفاده در عینکهای آفتابی و مواردی مشابه مورد استفاده قرار گیرد.کلیدواژه ها
نانوساختار سولفید مس،روش انباشت حمام شیمیایی،خواص نوری،فیلتر نوریمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.