وابستگی حرارتی مد نقص در یک بلور فوتونیک یک بعدی شامل نقص چاه-کوانتومی فوتونیکی سه لایه ای
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
- کد COI اختصاصی: NCOLE03_028
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 738
نویسندگان
گروه فیزیک، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی فارس، ایران
گروه فیزیک، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی فارس، ایران
گروه فیزیک، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی فارس، ایران
باشگاه پژوهشگران جوان، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی فارس، ایران
چکیده
در این مقاله به کمک روش ماتریس مشخصه به بررسی مدهای نقص به وجود آمده در طیف تراگسیل یک بلورفوتونیک یک بعدی که دارای نقص چاه-کوانتومی فوتونیکی سه لایه ای میباشد می پردازیم. ساختار مورد نظر از لایه هایدیالکتریکی ساخته شده است که ضریب شکست و ضخامت این لایه ها به دما وابسته می باشد. نتایج نشان می دهد کهتعداد مدهای نقص ظاهر شده در طیف تراگسیل بر خلاف حالت دولایه ای رابطه ی مستقیمی با تعداد سلول نقص نداردو علاوه بر آن نتایج نشان میدهد که با فزایش دما مدهای نقص در طول موج های بالاتر پدیدار می شوند بنابراین یکانتقال به قرمز خواهیم داشت. نتایج فوق جداگانه برای دماهای مختلف و برای تعداد سلول های نقص مختلف موردبررسی قرار گرفت. از نتایج بدست آمده میتوان در ساخت فیلترهای باریک حرارتی، فیلترهای چند کاناله و دیگر ادوات اپتیکی و فوتونیکی استفاده کرد.کلیدواژه ها
باند ممنوعه،بلور فوتونیک یک بعدی،درجه حرارت، دیالکتریک، مد نقصمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.