بهینه سازی مکان و ابعاد نقص نقطه ای درفیلترهای موجبری کریستال های فوتونیکی دوبعدی با بکارگیری الگوریتم ترکیبی روش تفاضل محدود درحوزه زمان و روش بهینه سازی ازدحام ذرات
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
- کد COI اختصاصی: NCOLE03_009
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1282
نویسندگان
واحد پارس آباد مغان، دانشگاه آزاد اسلامی واحد پارس آباد مغان، ایران
واحد پارس آباد مغان، دانشگاه آزاد اسلامی واحد پارس آباد مغان، ایران
چکیده
در این مقاله مساله اساسی پیدا کردن ارتباط بین محل و ابعاد نقص نقطه ای با خواص انتشاری و انتقالی یک فیلترموجبری کریستال فوتونیکی و بهینه سازی مشخصه انتقالی و انتشاری این ساختار به کمک تغییر در محل و ابعاد نقصنقطه ای می باشد. برای این کار ابتدا ساختارکریستال فوتونیکی دارای نقص باروش تفاضل محدود درحوزه زمان تحلیل (FDTD) می شود. سپس برای بهینه سازی مشخصه های انتقالی و انتشاری ساختار، از روش بهینه سازی ازدحام ذرات (PSO) استفاده می شود. نتایج حاصل ازروش ازدحام ذرات دوباره با روش تفاضل محدود درحوزه زمان تحلیل می شود. تا مشخصه انتقالی و انتشاری با مقادیر جدید بدست آید. مشخصه های بدست آمده با مشخصه هایمطلوب مقایسه می شود و در صورت رسیدن به مشخصه مطلوب الگوریتم خاتمه می یابد و در غیر اینصورت الگوریتمباز هم تکرار می شود. بعبارت دیگر دراین مقاله روش تفاضل محدوددرحوزه زمان با الگوریتم بهینه سازی ازدحام ذراتتزویج می شود، تا با تغییر محل و ابعاد نقص، مشخصه های انتقالی و انتشاری مربوط به ساختار فیلتر موجبری کریستال فوتونیکی بهبود داده شود.کلیدواژه ها
موجبر ،کریستال فوتونیکی ،تفاضل محدود در حوزه زمان ،بهینه سازی ازدحام ذرات ،نقص نقطه ایمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.