بررسی طیف جذبی پرتو ایکس نانو لایه های Co/Ru بر زیر لایه Si
- سال انتشار: 1390
- محل انتشار: پنجمین همایش مشترک انجمن مهندسی متالورژی ایران و انجمن ریخته گری ایران
- کد COI اختصاصی: IMES05_129
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 820
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
چکیده
در این مقاله با تاباندن اشعه ایکس به نانو لایه Co/Ru بر روی لایه سیلسیم توسط کد محاسباتی وین، طیف جذبی نانو لایه را مورد بررسی قرار می دهیم . پرتو ایکس به دلیل انرژی زیاد آن، قابلیت دارد که با الکترون های مغزه عنصر مشخصی بتابد و باعث برانگیختگی آن شود. از آنجایی که طیف جذبی پرتو ایکس به طور مستقیم میزان برانگیختکی یک الکترون مغزه به حالت های اشغال نشده را اندازه گیری میکند، می توان با مقایسه طیف با چگالی حالت های الکترونی، ساختار الکترونی حالت های اضغال نشده آن اتم مشخص را به دست آوریم.کلیدواژه ها
طیف جذبی اشعه ایکس، نانو لایه کبالت- روتینیوممقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.