لایه نشانی و بررسی خواص ساختاری، الکتریکی و اپتیکی لایه نازک ZnO:Ga
عنوان مقاله: لایه نشانی و بررسی خواص ساختاری، الکتریکی و اپتیکی لایه نازک ZnO:Ga
شناسه ملی مقاله: NCPHYAPP01_040
منتشر شده در نخستین کنفرانس سراسری فیزیک و کاربردهای آن در سال 1391
شناسه ملی مقاله: NCPHYAPP01_040
منتشر شده در نخستین کنفرانس سراسری فیزیک و کاربردهای آن در سال 1391
مشخصات نویسندگان مقاله:
سعید سالاری - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
کاووس میر عباس زاده - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
مهدی احمدی - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
خلاصه مقاله:
سعید سالاری - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
کاووس میر عباس زاده - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
مهدی احمدی - دانشکده مهندسی هستهای و فیزیک، دانشگاه صنعتی امیرکبیر (پلی تکنیک تهر
در این تحقیق ساخت لایه های نازک اکسید روی آلاییده با گالیم (ZnO:Ga) به روش سل ژل گزارش می شود. گالیم با درصدهای مختلف (0-2%) وارد ساختار لایه نازک ZnO د. نتایج حاصل از بررسی خواص ساختاری، الکتریکی، اپتیکی لایه های نازک حاکی از این بود که نمونه های 2% بهترین میزان عبور و کمترین میزان مقاومت الکتریکی ویژه را دارا بوده است. تأثیر دمای بازپخت بر روی خواص الکتریکی نیز مورد کاوش قرار گرفت.
کلمات کلیدی: لایه نشانی، اکسید روی، سل ژل، پوشش دهی غوطه وری، گالیم ZnO:Ga
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/195143/