تجزیه و تحلیل عوامل بحرانی موفقیت و شکست تحقیق و توسعه فناوری نانو با رویکرد ترسیم نقشه فازی
- سال انتشار: 1391
- محل انتشار: نهمین کنفرانس بین المللی مهندسی صنایع
- کد COI اختصاصی: IIEC09_231
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 898
نویسندگان
کارشناسی ارشد مهندسی صنایع
دانشیار دانشگاه صنعتی شریف
چکیده
آسب شناسی پژوهش های علوم اجتماعی و انسانی نشان می دهد که میزان خطا و ابهام در سنجه ها و ارزیابی های انسانی همواره موجب کاهش اعتبار این پژوهش ها می شو د . از این رو ، برای رفع این آسیب و عدم اطمینان و ابهام در ارزیابی های انسانی ، روش ترسیم نقشه فازی به عنوان رویکردی نوین در تجزیه و تحلیل عوام ل معرفی و استفاده می گردد . در این پژوهش ابتدا عناصر تحقیق و توسعه فناوری نانو در ایران با مطالعه کتابخانه ای شناسایی و سپس با توزیع پرسشنامه و انجام مصاحبه در جامعه مورد نظر شا م ل مدیران و کارشناسان صنعت در حوزه فناوری نانو و اساتید دانشگاهی این حوزه ، شاخص های نهایی شامل 27 عنصر تحقیق و توسعه فناوری نانو در ایران در هفت بعد مجزا شناسایی و تقسیم بندی ش د . سپس با استفاده از رویکرد ترسیم نقشه فازی عوامل بحرانیموفقیت و شکست این عناصر معرفی گردید. نتایج این تحقیق نشان داد که مهمترین عامل بحرانی موفقیت ایجاد آگاهی عمومی در حوزه فناوری نانو و مهمترین عوامل بحرانیشکست ایجاد تعامل بین محققان و مهندسان ، پیشنهاد راهبردهای تحقیق و توسعه برای دولت ، و ارتباط بین صنعت و دانشگاه استکلیدواژه ها
نقشه فازی، عوامل بحرانی موفقیت، عوامل بحرانی شکست، تحقیق و توسعه، فناوری نانومقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.