مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن

سال انتشار: 1396
محل انتشار: سومین همایش تجهیزات و مواد آزمایشگاهی صنعت نفت
کد COI اختصاصی: IRANLABCO03_133
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 49

نویسندگان

دانشگاه محقق اردبیلی ،

چکیده

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X به یکی از پرکاربردترین تکنیک های آنالیز سطح تبدیل شده است . XPSیا طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی با قابلیت به دست آوردن ترکیب عنصری کمی ، حالت شیمیایی و اطلاعات ضخامت لایه پوششی از بالای ۱۰ نانومتر از سطح نمونه ، یک روش همه کاره و گسترده است . در این مقاله مروری ، اصول اولیه این تکنیک از جمله اثر فوتوالکتریک ، چگونگی برهمکنش الکترون ها با ماده، عوامل موثر در این تکنیک مانند آلودگی سطحی ، و اثر محیط شیمیایی اطراف یک عنصر بر انرژی اتصال الکترون های خود ارائه شده است . همچنین کاردبردها و روشکار این تکنیک مورد بحث قرار گرفته است .

کلیدواژه ها

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X؛ الکترون اوژه؛ آنالیز عنصری ؛ پرتو X

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.