مدل سازی ریاضی اثر پارامترهای لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی بروی اندازه دانه پوشش حاصله
- سال انتشار: 1391
- محل انتشار: اولین همایش بین المللی و ششمین همایش مشترک انجمن مهندسی متالورژی ایران
- کد COI اختصاصی: IMES06_241
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 652
نویسندگان
کارشناسی ارشد نانو مواد دانشگاه صنعتی سهند
استادیار دانشکده مواد-دانشگاه صنعتی سهند
استادیار دانشکده مواد-دانشگاه صنعتی سهند
چکیده
در این پژوهش یک مدل ریاضی برای ارزیابی اثر تغییرات پارامتر های لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی بر روی اندازه دانه پوششهای نیکل ارائه شده است. در این مدل رابطه تغییرات غلظت یون های فلزی بر روی سطح کاتد را بدست آورده، سپس رابطهتغییرات نرخ جوانه زنی به صورت تابعی بر حسب پارامترهای لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی بیان شده است. رسم تابع نرخ جوانه زنی بر حسب پارامترهای لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی ، نشان داده است که با افزایش هر یک از پارامترهای لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی تا یک مقدار مشخصی کاهش اندازه دانه و سپس افزایش اندازه دانه را داریم. نتایج بدست آمده از مدل با نتایج تجربی بدست آمده از پوشش های نیکل مقایسه شد. خواص سختی سنجی پوششها با دستگاه میکرو سختی سنجی بررسی شده استکلیدواژه ها
لایه نشانی الکتروشیمیایی با جریان پالسی، اندازه دانه ،مدل سازی ریاضیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.