اندازه گیری ضریب تضعیف خطی کامپوزیت های تقویت شده با مواد نانو مورد استفاده در حفاظ سازی
- سال انتشار: 1397
- محل انتشار: فصلنامه سنجش و ایمنی پرتو، دوره: 6، شماره: 3
- کد COI اختصاصی: JR_RSM-6-3_002
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 186
نویسندگان
Shiraz University
Shiraz University
Shiraz University
Shiraz University
Shiraz University
چکیده
استفاده از پرتوهای اشعه ایکس در صنایع مختلف و به خصوص در کاربرد های پزشکی در حال افزایش است. در این راستا طراحی مواد محافظ سبک و کارآمد بر پایه نانو کامپوزیت های پلیمری و مطالعه دقیق تاثیر افزودن نانو ذرات با اندازه های مختلف در پلیمرها بر تضعیف اشعه ایکس ضروری به نظر می رسد. در این تحقیق نانو کامپوزیت های اپوکسی با درصدهای مختلف نانو ذرات اکسید مس (۵ و ۱۰ درصد وزنی) تولیدشده و تاثیر پارامترهای مختلف ازجمله انرژی پرتوهای اشعه ایکس و ضخامت نمونه ها بر تضعیف اشعه ایکس موردمطالعه قرار گرفت. برای این منظور نمونه های نانو کامپوزیتی در معرض اشعه ایکس مشخصه keV ۲۵.۲۷ و keV ۲۸.۴۹ ناشی از قلع قرارگرفته و ضریب تضعیف خطی نمونه ها با استفاده از طیف نگار نیمه هادی HPGe اندازه گیری شد. همچنین نحوه توزیع نانو ذرات درزمینه اپوکسی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی موردبررسی قرار گرفت. نتایج آزمون اشعه ایکس نشان دهنده تفاوت قابل توجه توانایی اپوکسی در تضعیف اشعه ایکس با افزودن نانو ذرات می باشد. همچنین تصاویر میکروسکوپی توزیع مناسب نانو ذرات درزمینه اپوکسی حتی در درصدهای بالا را نشان می دهد.کلیدواژه ها
Nanoparticle, Copper oxide, Epoxy, X-ray, Attenuation Coefficient, نانوذره, اکسید مس, اپوکسی, اشعه ایکس, ضریب تضعیفاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.