جفتشدگی غیرخطی دو نانوسیم پلاسمونیکی جفت شده با حضور اثر کر و جذب دوفوتونی در مد های TM۰۰ و TM۱۰
- سال انتشار: 1399
- محل انتشار: مجله پژوهش فیزیک ایران، دوره: 20، شماره: 4
- کد COI اختصاصی: JR_PSI-20-4_006
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 238
نویسندگان
گروه فیزیک اتمی و مولکولی، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران
گروه فیزیک اتمی و مولکولی، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران
گروه فیزیک اتمی و مولکولی، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران
چکیده
برهم کنش غیر خطی نانوسیمهای پلاسمونیکی از موضوعات مهم در مدارات مجتمع اپتیکی است. در این مقاله به بررسی اثرات جفتشدگی غیرخطی برای دو مد TM۰۰ و TM۱۰ در دامنههای مختلف بر روی دو نانوسیم پلاسمونیکی از جنس نقره در حضور اثر کر و حالتی دیگر که محیط علاوه بر اثر کر اثر جذب دوفوتونی نیز دارد، میپردازیم. نتایج نشان میدهد که اثرات غیرخطی با حضور اثر جذب دوفوتونی در دامنههای ورودی خیلی پایین تری نسبت به اثر کر ظاهر می شود. اثر کر در شدت های بسیار بالاتری نسبت به اثر جذب دوفوتونی رخ میدهد و اثرات اپتیکی غیرخطی موجب کاهش جابه جایی موج پلاسمونیکی بین دو موجبر نانوسیم میشود. مقادیر طول جفتشدگی (Lc)- که این طول کمترین مسافتی است که طی آن در محیط جابه جایی موج بین دو نانوسیم صد در صد است- در مد TM۰۰ کمتر از مد TM۱۰ است. همچنین نتایح نشان میدهد که افزایش شدت در یک طول جفت شدگی به ازای دامنه میدان های اولیه مختلف منجر به افزایش راندمان جفت شدگی میشود.کلیدواژه ها
اثر جذب دو فوتونی, اثر کر, نانوسیم, جفت شدگی غیر خطیاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.