مورفولوژی نانوساختارهای سیلیکان متخلخل بوسیله طیف بازتاب
- سال انتشار: 1389
- محل انتشار: هفدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و سومین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP17_090
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 921
نویسندگان
گروه فیزیک دانشگاه الزهرا تهران
چکیده
طیف بازتاب چهار نمونه سیلیکان متخلخل تحت زمانهای اندیزاسیون 2، 6، 10 و 14 دقیقه اندازه گیری شد. افت و خیز طیف بازتاب برای هر چهار نمونه یکسان اما شدت انها متفاوت بود و با افزایش زمان شدت بازتاب، کاهش می یافت. پس از بررسی تصویر SEM نمونه ها به این نتیجه رسیدیم که دلیل عدم تغییر در افت و خیزهای طیف بازتاب یکسان بودن غلظت محلول الکترولیت در طول ساخت بوده و کاهش شدت بازتاب به دلیل کاهش ابعاد ذرات است این کاهش ابعاد باعث تغییر مورفولوژی نانوساختارهای سیلیکان متخلخل نیز می گردد کمترین شدت بازتاب به نمونه ای که کوچکترین ابعاد ذرات را داراست مربوط می شود.کلیدواژه ها
طیف بازتاب، مورفولوژی ، نانوساختارهای سیلیکان متخلخلمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.