An LFSR based method for concurrent BIST in logic circuits

  • سال انتشار: 1399
  • محل انتشار: هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران
  • کد COI اختصاصی: COMCONF07_070
  • زبان مقاله: انگلیسی
  • تعداد مشاهده: 765
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

Ahmad Menbari

Department of Electrical Engineering, University of Kurdistan, Sanandaj, Iran

Hadi Jahanirad

Department of Electrical Engineering, University of Kurdistan, Sanandaj, Iran

چکیده

Built in self-test (BIST) is the capability of hardware/software to test by itself. BIST techniques are divided into two categories namely offline and online. In this paper, a new method based on duplication system test for concurrent online test is presented. Analysis of linear feedback shift register (LFSR) is our main focus to solve challenges and get our objects. This Concurrent online method is based on pre-computed test set which These efficient vectors are calculated by our own method instead of a deterministic test pattern generation algorithm. Area over head is decreased 48.2% compared to the previous methods. For large scale circuits this parameter is recorded low percentages. In addition to this, getting our test vectors by our own method makes us able to tradeoff between different parameters like fault coverage and area overhead.

کلیدواژه ها

Concurrent self test, BIST, Test generation, Fault simulation

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.