بررسی اثر اندازه بر خمش غیرخطی میکروتیر حاوی میکروسیم های حافظه دار

  • سال انتشار: 1399
  • محل انتشار: بیست و هشتمین کنفرانس سالانه بین المللی انجمن مهندسان مکانیک ایران
  • کد COI اختصاصی: ISME28_306
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 547
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

احمد فلاح رحمت آبادی

دانشجوی دکتری مهندسی مکانیک، دانشگاه شهرکرد، شهرکرد

محسن بت شکنان دهکردی

دانشیار ، دانشگاه شهرکرد، شهرکرد

سیدحسن نوربخش

دانشیار ، دانشگاه شهرکرد، شهرکرد

چکیده

در کار حا ضر به برر سی اثر اندازه بر خمش غیرخطی میکروتیر حاوی میکروسیم های حافظه دار با لحاظ کردن اثرات غیرخطی هندسی و غیرخطی مواد، پرداخته میشود. در ابتدا، با در نظر گرفتن رابطه غیرخطی کرنش-جابجایی ون- کارمن و با ا ستفاده از اصل کار مجازی و با بهره گیری از تئوری تنش کوپل اصلاح شده، معادلات حاکم بر میکروتیر تیموشنکو به دست می آید. از فرمولا سیون ارائه شده تو سط هرناندز و لاگوداس که با تعریف متغیرهای میکرو آلیاژهای حافظه دار به صورت توانی، اثر اندازه را لحاظ می نماید، جهت مدل کردن میکروسیمهای حافظه دار ا ستفاده می شود. سپس نتایج با ا ستفاده از روش المان محدود غیرخطی و الگوریتم نگاشت برگشتی صفحه برنده محدب و کدنویسی در نرم افزار متلب به دست می آید و اعتبار آن با مقایسه با مقالات مرجع برر سی می شود. نتایج به د ست آمده نشان مید هد که با افزایش اثر اندازه و با افزایش قطر میکروسیم های حافظه دار در محدوده میکرو، خیز نقطه میانی میکروتیر کاهش می یابد.

کلیدواژه ها

میکروسیم حافظه دار، تئوری تنش کوپل، پارامتر اثر اندازه

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.