سنتز و بررسی خواص نانوساختاری نانوکامپوزیتNiO/SiO 2 در کاربردهای نانوالکترونیک
محل انتشار: اولین کنفرانس ملی نانوالکترونیک ایران
سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,259
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICNE01_035
تاریخ نمایه سازی: 10 اردیبهشت 1392
چکیده مقاله:
سنتز نانوکامپوزیتNiO/SiO2به روش سادهی سل- ژل انجام گرفت. از تکنیکهای FTIR و SEM ،XRD برای تعیین ساختار فاز، ریختشناسی سطح و بررسی پیوندهای شیمیایی این نانوکامپوزیت استفاده شده است. اندازهی نانوذرات، به روشX-Powder بر مبنای رابطهی دبای- شرر( و کرنش شبکه به وسیلهی معادله ویلیامسون- هال بهدست آمده است. نتایج حاصل نشان دادهاند که نانوکامپوزیت سنتز شده تا دمای حدود 1111 درجه سانتیگراد دارای ساختاری عاری از شکاف، درز و حفره میباشد و این دلیلی برای کاهش شدید جریانهای نشتی و تونلی و همچنین افزایش استحکام ساختاریماده است. در نهایت نانوکامپوزیت سنتز شده در این آزمایش مادهای مناسب برای کاربرد در صنایع نانوالکترونیک شامل ساخت گیت ترانزیستور و محفظههای فراخلاء میباشد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
بهار دستداران
دانشگاه آزاد اسلامی واحد ساری-
خدیجه تقوی
دانشگاه مازندران- دانشکده علوم پایه- گروه فیزیک
علی بهاری
دانشگاه مازندران- دانشکده علوم پایه- گروه فیزیک
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :