تولیدخودکار بردار آزمون برای آشکارسازی خطای اتصال 0و1 در سطح گیت مدارات دیجیتالی با استفادها ز الگوریتم ژنتیک
محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران
سال انتشار: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,141
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ACCSI10_052
تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390
چکیده مقاله:
تولید بردار آزمون یکی از مسائل مهم در آزمون مدارای دیجیتالی می باشد دراین مقاله تولید بردار آزمون برای مدارات دیجیتالی در سطح گیت برای آشکارسازی خطای اتصال به 1 یا 0 با استفاده از الگوریتم ژنتیک مورد نظر می باشد روش مورد نظر در حالت وجود چندین خطا multi-fault و مدارات دارای fan-out و درحالتیکه تعداد ورودی ها مدار بالا باشد دارای عملکرد مناسب می باشد نتایج شبیه سازی کارایی این روش تولید بردار ازمون برای مدارات دیجیتالی را نشان میدهد.
کلیدواژه ها:
تولید بردار آزمون ، الگوریتم ژنتیک ، خطای اتصال به صفر یا یک ، fan-out ، multi-fault ، و مدار سطح گیت
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :