Displacement Fields Influence Analysis Caused by Dislocation Networks at a Three Layer System Interfaces on the Surface Topology

سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 284

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JSMA-11-3_010

تاریخ نمایه سازی: 12 اسفند 1398

چکیده مقاله:

This work consists in a numerically evaluation of elastic fields distribution, caused by intrinsic dislocation networks placed at a nanometric trilayers interfaces, in order to estimate their influence on the surface topology during heterostructure operation. The organization of nanostructures is ensured by the knowledge of different elastic fields caused by buried dislocation networks and calculated in the case of anisotropic elasticity. The influence of elastic fields generated by induced square and parallel dislocation networks at CdTe / GaAs / (001) GaAs trilayer interfaces was investigated. By deposition, the nanostructures organization with respect to the topology was controled.             

نویسندگان

A Boussaha

Laboratory LAMSM, Mechanical Engineering Department, Faculty of Technology, University of Batna ۲ Mostafa Ben Boulaid, Batna, Algeria

R Makhloufi

Laboratory LAMSM, Mechanical Engineering Department, Faculty of Technology, University of Batna ۲ Mostafa Ben Boulaid, Batna, Algeria

S Madani

Laboratory LAMSM, Mechanical Engineering Department, Faculty of Technology, University of Batna ۲ Mostafa Ben Boulaid, Batna, Algeria

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Wang X., Pan E., Albercht J.D., 2007, Anisotropic elasticity of ...
  • Wang H.Y., Yin Y.H., Yu S.R., 2011, Stress fields caused ...
  • Makhloufi R., Brioua M., Benbouta R., 2016, The effect of ...
  • Madani S., Outtas T., Adami L., 2008, Numerical simulations of ...
  • Madani S., Outtas T., Adami L., 2007, Numerical simulation of ...
  • Wang H.Y., Wu M.S., Fan H., 2007, Image decomposition method ...
  • Koguchi H., Tanaka Y., 2017, Interaction of dislocations at interfaces ...
  • Bonnet R., Loubradou M., Catana A. , Stadelman P.,1991, Electron ...
  • Bonnet R., Verger-Gaugry J.L., 1992, Couche épitaxique mince sur un ...
  • Bonnet R., 1981, Periodic displacement and stress fields near a ...
  • Feuillet G., 1990, Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron ...
  • Coelho J., 2004, Paris XI University, Ph.D. thesis, UFR Scientifique ...
  • Bonnet R., 2000, A two-layer epitaxial composite strained by an ...
  • Bonnet R., Loubradou M., 1994, Atomic positions around misfit dislocations ...
  • نمایش کامل مراجع