تنظیم پذیری مد نقص در بلور فوتونی یک بعدی با استفاده از لایه ی گرافن
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1393
- کد COI اختصاصی: IPC93_398
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 450
نویسندگان
دانشکده فیزیک دانشگاه تبریز، گروه حالت جامد و الکترونیک
دانشکده فیزیک دانشگاه تبریز، گروه حالت جامد و الکترونیک.پژوهشکده ی فیزیک کاربردی و تحقیقات ستاره شناسی دانشگاه تبریز، تبریز
چکیده
در این مقاله یک بلور فوتونی یک بعدی با لایه ی نقص که از هر دو طرف با لایهای از گرافن احاطه شده است را مورد بررسی قرار دادیم که رسانندگی نوری گرافن توسط عامل خارجی میدان الکتریکی کنترل میشود. با تاثیر عامل خارجی در رسانندگی نوری گرافن و تنظیم پارامترهای بلور فوتونی باعث ایجاد مد نقص در ناحیه ی 1500 نانومتر میشویم که یک طول موج رایج در الکترواپتیک محسوب میشود.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- بررسی اثرات انتشار امواج لرزه ای در سازههای قاب خمشی دسته شده و هگزاگرید دارای پارامتر سختی یکسان
- شناسایی آزمایشگاهی ترک طولی تراورس بتنی پیش تنیده با استفاده از تست مودال تجربی
- Investigation of Transmission Loss and Absorptioncoefficient of the PU Composite Panels forConstruction Application
- Comprehensive Analysis of the Effect of Polyisobutyl-ene (PIB) Molecular Weight on Damping Properties of Butyl-Based Constrained Layer Damping Systems
- REVIEWING THE OBERST BEAM METHOD AND ITS AP-PLICATION IN CONSTRAINED LAYER DAMPING FOR AUTOMOTIVE NOISE, VIBRATION, AND HARSHNESS (NVH) CONTROL
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.