تاثیر تغییر ضخامت لایه ها در اختلاف فاز بازتابی از بلورهای فوتونی یک بعدی شامل مواد تک منفی
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1393
- کد COI اختصاصی: IPC93_198
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 262
نویسندگان
دانشکده فیزیک، دانشگاه تبریز، بلوار ۲۹ بهمن، تبریز
دانشکده فیزیک، دانشگاه تبریز، بلوار ۲۹ بهمن، تبریز
چکیده
در این مقاله اختلاف فاز بین دو موج پلاریزه ی الکتریکی عرضی و مغناطیسی عرضی بازتابی از گاف باند دوم یک بلور فوتونی متشکل از مواد اپسیلون- منفی و میو- منفی به صورت تابعی از ضخامت لایه های تشکیل دهنده ی ساختار بررسی شده است. فرض شده است که پریود ساختار ثابت است. سپس نشان داده شده است که پهنای گاف باند همه سویه ی دوم ساختار، به نسبت ضخامت دو لایه ی تشکیل دهنده ی بلور فوتونی بستگی دارد. بعلاوه، مقدار اختلاف فاز تقریبا از نسبت ضخامتهای دو لایه مستقل است، در حالیکه با زاویه ی تابش و فرکانس امواج در ناحیه ی گاف باند دوم تغییر میکند.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- بررسی اثرات انتشار امواج لرزه ای در سازههای قاب خمشی دسته شده و هگزاگرید دارای پارامتر سختی یکسان
- شناسایی آزمایشگاهی ترک طولی تراورس بتنی پیش تنیده با استفاده از تست مودال تجربی
- Investigation of Transmission Loss and Absorptioncoefficient of the PU Composite Panels forConstruction Application
- Comprehensive Analysis of the Effect of Polyisobutyl-ene (PIB) Molecular Weight on Damping Properties of Butyl-Based Constrained Layer Damping Systems
- REVIEWING THE OBERST BEAM METHOD AND ITS AP-PLICATION IN CONSTRAINED LAYER DAMPING FOR AUTOMOTIVE NOISE, VIBRATION, AND HARSHNESS (NVH) CONTROL
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.