لایه نشانی فیلم های نازک طلابه روش تبخیر باریکه ی الکترونی و بررسی خواص ساختاری ومورفولوژی فیلم هابا تغییر دمای بازپخت
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1393
سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 176
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC93_169
تاریخ نمایه سازی: 5 آذر 1398
چکیده مقاله:
در این مطالعه فیلم های نازک طلا به روش لایه نشانی تبخیر باریکه ی الکترونی بر روی زیر لایه ی شیشه ای تهیه شد.خواص ساختاری با تغییر دمای باز پخت فیلم ها مورد بررسی قرار گرفت. خواص ساختاری فیلم ها با استفاده از طرح پراش اشعه ی (XRD)Xمطالعه شدمورفولوژی سطح نیزبااستفاده ازتصاویر AFM مطالعه شد نتایج (XRD)نشان دهنده ی ساختارکریستالی باجهت ترجیحی 111 می باشد
نویسندگان
زهرا فریدونی
دانشکده علوم دانشگاه بوعلی سینا ،همدان
فریدون سموات
گروه فیزیک، دانشگاه بوعلی سینا، همدان