مطالعه کلیدزنی دو پایا با آستانه پایین در بلور فوتونی یک بعدی غیر خطی

سال انتشار: 1398
محل انتشار: هشتمین همایش مهندسی برق مجلسی
کد COI اختصاصی: NCEEM08_024
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 446

نویسندگان

گروه مهندسی برق-الکترونیک، پردیس علوم و تحقیقات دماوند، واحد دماوند، دانشگاه آزاد اسلامی، دماوند، ایران

چکیده

در این مقاله با استفاده از روش FDTD غیرخطی رفتار دوپایای نوری در بلور فوتونی یک بعدی بررسی شده است. در بلور فوتونی یک بعدی از اثر غیرخطی کر در مادهای با ضریب شکست nD=1.4 و ضریب شکست کر غیر خطی χ(3)=0.00001(ε0/µ0) استفاده شده است. شبیه سازی بلور فوتونی در دو فرکانس ωin=ω0 و ωin=0.8235ω0 تا شدت میدان الکتریکی 120 kV/m انجام شده است. همانطور که در شبیه سازی های انجام شده مشاهده گردید در حالت غیر خطی با فرکانس ورودی 0w ، پالس مثلثی ورودی به ساختار در لایه خرابی محدودمی شود ، ولی با تغییر فرکانس پالس ورودی از 0w به w0 0.8235 پالس ورودی وارد لایه خرابی نمی گردد یاضریب نفوذ آن بسیار پایین است. این تغییر فرکانس معادل با تغییر 0/039 در ضریب شکست لایه خرابی، nD ، است. از این خاصیت میتوان به عنوان سوییچ دوپایا استفاده کرد.

کلیدواژه ها

کلیدزنی دو پایا، بلور فوتونی، FDTD غیرخطی، آستانه پایین، ضریب شکست لایه نقص.

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.