تاثیر ضخامت سینتیلاتور بر میزان پس تاب آن در آشکارسازهای پرتو X

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 484

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICTINDT03_051

تاریخ نمایه سازی: 18 مرداد 1398

چکیده مقاله:

تصویربرداری میکروسکوپی سه بعدی با استفاده از پرتو X که به آن توموگرافی کامپیوتری نیز گفته میشود یکی از روشهای انجام آزمونهای غیر مخرب برای تشخیص ساختارهای داخلی اجسام به صورت سه بعدی میباشد. یکی از بخشهای مهم هر سیستم توموگرافی کامپیوتری آشکارساز پرتو 1X است. از میان انواع مختلف آشکارسازها آشکارسازهای سینتیلاتور حالت جامد2 به طور گسترده ای در سیستم های CT و همچنین شتابدهنده های سینکروترون3 میکرو توموگرافی استفاده میشوند . در کنار پارامترهای مختلف، میزان ضخامت سینتیلاتور بر راندمان و عملکرد این آشکارسازها تاثیر دارد. سینتیلاتورهای ضخیم تر منجر به انتشار نور بالاتر میشوند اما از طرفی وضوح تصویر با افزایش ضخامت سینتیلاتور کاهش می یابد. برای رسیدن به یک سرعت اسکن بالاتر، معمولا از سینتیلاتورهای ضخیم تر استفاده میشود. اما ضخامت سینتیلاتور ممکن است اثر پس تاب4 سینتیلاتور را تحت تاثیر قرار دهد. در این مقاله تاثیر ضخامت سینتیلاتور های LuAG:Ce در فروزش و اثر پس تاب بررسی شده است. نتایج تجربی نشان می دهد که علاوه بر نوع مواد استفاده شده در سینتیلاتور و شرایط آزمایش ( مانند مدت زمان تابش پرتو و انرژی پرتو ) ، ضخامت سینتیلاتور نقش تعیین کننده در فروزش سینتیلاتور و به ویژه اثر پس تاب آن دارد.

نویسندگان

Karim Zarei Zefreh

iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium

Jan De Beenhouwer

iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium

Jan Sijbers

iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium