Modeling and control of atomic force microscope for imaging using neural network
عنوان مقاله: Modeling and control of atomic force microscope for imaging using neural network
شناسه ملی مقاله: ISME17_693
منتشر شده در هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک در سال 1388
شناسه ملی مقاله: ISME17_693
منتشر شده در هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک در سال 1388
مشخصات نویسندگان مقاله:
h babahosseini - MSc stuent mechanical eng
s.m yazdian - MSC student of mechanical eng
h sayyaadi - associated professor
خلاصه مقاله:
h babahosseini - MSc stuent mechanical eng
s.m yazdian - MSC student of mechanical eng
h sayyaadi - associated professor
Atomic force microscope (AFM) can provide topograhic images of surfaces. Control the vibration behavior of the AFM and make the probe tip track a certain trajectory is important to appropriately scanning.
کلمات کلیدی: atomic force microscope(AFM), Non contact mode imaging, neural network (NN)
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/90854/